これまでの試料、分析対象項目

「試料、分析対象項目」については、表として作成している。表中には、「年度」、「試料（分析対象試料、形態）」、「分析対象項目」、「備考」に分けている。
  1. 年度
    調査した年度を西暦表示している。

  2. 試料
    試料は、「分析対象試料」と「形態」に分けて示している。
    「分析対象試料」は、原則として調査用紙（「実施要領」、「分析結果記入用紙」等）に記載している名称としている。「形態」は、試料の形態の概略を示したものである。
    なお、2001年度以降については、「基本精度管理調査」と「高等精度管理調査」に区分して調査しており、この調査名称も併せて示している。
    また、1998～2000年度については、「超微量有害化学物質（ダイオキシン類）」と「他の項目」に区分して調査しており、この調査名称も併せて示している。
    （注）「基本精度管理調査」とは、基準値、公的な分析方法等が規定されている測定項目に関する調査である。「高等精度管理調査」とは、基準値、公的な分析方法等が確立されていない（又は規定されて間もない）又は高度な分析技術を要する等測定項目に関する調査である。

  3.  分析対象項目
    分析対象とした項目名であり、原則として調査用紙（「実施要領」、「分析結果記入用紙」等）に記載している名称で示している。
    なお、ダイオキシン類の定義については、ＪＩＳの改正により次のとおりとしている。
    2004年度まで････PCDDs及びPCDFsをダイオキシン類とし、コプラナーPCBはダイオキシン類と区別している。
    2005年度以降････PCDDs、PCDFs、DL-PCB（コプラナーPCB）を含めてダイオキシン類としている。

  4. 備考
    特記すべき方法によって調査した場合に記載している。例えば、試料の配布方法、特別な分析方法等、必要に応じて示している。
    「なお、この「試料、分析対象項目」の表は、原則として１０年度ごとにまとめている。この調査は１９７５年度から実施しており、最初の表は１９７５～１９８０であり、続けて１９８１～１９９０年度、１９９１～２０００年度、２００１～２０１０年度、２０１１～２０２０年度、２０２１年度以降となっている。」