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本調査について

調査概要

これまでの試料、分析対象項目

「試料、分析対象項目」については、表として作成している。表中には、「年度」、「試料(分析対象試料、形態)」、「分析対象項目」、「備考」に分けている。
1. 年度
調査した年度を西暦表示している。
2. 試料
試料は、「分析対象試料」と「形態」に分けて示している。
 「分析対象試料」は、原則として調査用紙(「実施要領」、「分析結果記入用紙」等)に記載している名称としている。「形態」は、試料の形態の概略を示したものである。
 なお、2001年度以降については、「基本精度管理調査」と「高等精度管理調査」に区分して調査しており、この調査名称も併せて示している。
 また、1998~2000年度については、「超微量有害化学物質(ダイオキシン類)」と「他の項目」に区分して調査しており、この調査名称も併せて示している。

(注)「基本精度管理調査」とは、基準値、公的な分析方法等が規定されている測定項目に関する調査である。「高等精度管理調査」とは、基準値、公的な分析方法等が確立されていない(又は規定されて間もない)又は高度な分析技術を要する等測定項目に関する調査である。
3. 分析対象項目
分析対象とした項目名であり、原則として調査用紙(「実施要領」、「分析結果記入用紙」等)に記載している名称で示している。
 なお、ダイオキシン類の定義については、JISの改正により次のとおりとしている。
  • 2004年度まで・・・・PCDDs及びPCDFsをダイオキシン類とし、コプラナーPCBはダイオキシン類と区別している。
  • 2005年度以降・・・・PCDDs、PCDFs、DL-PCB(コプラナーPCB)を含めてダイオキシン類としている。
4. 備考
特記すべき方法によって調査した場合に記載している。例えば、試料の配布方法、特別な分析方法等、必要に応じて示している。
「 なお、この「試料、分析対象項目」の表は、原則として10年度ごとにまとめている。この調査は1975年度から実施しており、最初の表は1975~1980であり、続けて1981~1990年度、1991~2000年度、2001年度以降となっている。」
 
→ 2011年度以降(平成23年度以降)[PDF 89KB]
→ 2001~2010年度(平成13~22年度)[PDF 28KB]
→ 1991~2000年度(平成3~12年度)[PDF 19KB]
→ 1981~1990年度(昭和56~平成2年度)[PDF 6KB]
→ 1980年度以前[1975~1980年度](昭和55年度以前)[PDF 13KB]
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