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課題成果報告


B-1006 先端的単一微粒子内部構造解析装置による越境汚染微粒子の起源・履歴解明の高精度化
研究代表者所属名・氏名	藤井　正明 (東京工業大学)	実施期間（年度）	H22～H24
越境汚染微粒子の起源・履歴解明の高精度化は早急に対応するべき課題です。イオンビームとレーザーイオン化を用いた微細分析が発達し、これまでに40nm程度の分解能で単一微粒子の内部構造を明らかにできる分析技術を開発してきました。すなわち、内部構造を微粒子の「指紋」として発生源と浮遊履歴の解析に用いる新たな方法論が可能となり、粒子履歴の解明の高精度化につながります。本研究では、この先端的単一微粒子内部構造解析装置を用いて環境微粒子の履歴解析を行い、その結果を従来のバルク分析による解析手法と比較しフィードバックすることで、越境汚染粒子の起源ならびに履歴解明の新たな解析法が開拓でき、高精度化が大きく前進します。

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